1. ......................
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing - Data processing ، Integrated circuits,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1987
2. Advanced simulation and test methodologies for VLSI design
پدیدآورنده: Russell, Gordon.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Very large scale integration - Testing ، Integrated circuits
رده :
TK
7874
.
R88
1989
3. Advanced simulation and test methodologies for vlsi design
پدیدآورنده: Russell, Gordon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits-very large scale integration Design and construction -- Data processing, Computer Aided design, Integrated circuits-very large scale integration Testing, Integrated circuits-very large scale integration Simulation methods
رده :
TK
7874
.
R77
4. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI /
پدیدآورنده: edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Computer-aided design,Expert systems (Computer science),Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design and construction-- Data processing,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Data processing
رده :
TK7874
.
A416
1992
5. Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI
پدیدآورنده: edited by Gaynor Taylor and Gordon Russell
کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Design and construction -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,Testing -- Data processing ، Integrated circuits -- Very large scale integration,، Computer-aided design,، Expert systems )Computer science(
رده :
TK
7874
.
A416
1992
6. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing , Expert systems )Computer science( , Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
7. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: Singh, Narinder, 6591-
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
8. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
9. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
10. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
11. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
12. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده : Singh, Narinder, 6591-
موضوع : ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Data processing,، Expert systems )Computer science(,، Artificial intelligence
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
13. An artificial intelligence approach to test generation
پدیدآورنده: / by Narinder Singh
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence
رده :
TK
7874
.
S533
1986
14. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده: / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع: Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
TK5103
.
452
.
E95
2004
15. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده: / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع: Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
TK5103
.
452
.
E95
2004
16. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده: / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Code division multiple access,Mobile communication systems , Equipment and supplies,Integrated circuits , Very large scale integration,Radio circuits,Electronic books. , local
رده :
E-BOOK
17. An experimental approach to CDMA and interference mitigation
پدیدآورنده: / Luca Fanucci ... [et al.]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Code division multiple access,Mobile communication systems- Equipment and supplies,Integrated circuits- Very large scale integration,Radio circuits
رده :
E-BOOK
18. An introduction to logic circuit testing /
پدیدآورنده: Parag K. Lala
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
19. Built-in test for VLSI
پدیدآورنده: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
20. Built-in test for VLSI
پدیدآورنده: / Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing
رده :
TK
7874
.
B374
1987
